Ceyear 3674系列矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀是技術(shù)創(chuàng )新的巔峰之作，可以輕松應對半導體芯片測試、材料測試、天線(xiàn)測試、高速線(xiàn)纜測試、微波部組件測試等帶來(lái)的嚴峻挑戰。出色的射頻特性、靈活的硬件配置和豐富的軟件功能相輔相成，只需一次連接即可完成多種測量任務(wù)。創(chuàng )新的人機交互設計可幫助您快速便捷地完成所需的測量設置，超大觸摸屏為您帶來(lái)靈活、高效的操作體驗。